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手動(dòng)探針臺(tái) P300J電動(dòng)手動(dòng)探針臺(tái):電動(dòng)手動(dòng)探針臺(tái),300mm,-55到300℃ P300A半自動(dòng)探針臺(tái):專為低電流、亞微米定位應(yīng)用而設(shè)計(jì),300mm,-55到300℃
電動(dòng)手動(dòng)探針臺(tái) P300J電動(dòng)手動(dòng)探針臺(tái):電動(dòng)手動(dòng)探針臺(tái),300mm,-55到300℃ P300A半自動(dòng)探針臺(tái):專為低電流、亞微米定位應(yīng)用而設(shè)計(jì),300mm,-55到300℃
P200L半自動(dòng)探針臺(tái):半自動(dòng)探針臺(tái),200mm,-65到400℃, P300L半自動(dòng)探針臺(tái):半自動(dòng)探針臺(tái),300mm,-55到300℃
2210-LS 通用探針臺(tái):通用型探針臺(tái),室溫可達(dá)24寸,高溫或低溫可達(dá)18英寸,300mm以下晶圓,溫度-400到125℃
SPS-1000,SPS-2000和SPS-2200系統(tǒng)是MicroXact首要的手動(dòng)探針臺(tái),設(shè)計(jì)靈活且易于使用。這些手動(dòng)探針系統(tǒng)的高性能和經(jīng)濟(jì)性使它們屬于自己的一類。憑借高達(dá)200mm的晶圓功能,DC或RF探頭和可選的熱卡盤以及各種屏蔽選項(xiàng),我們的探針臺(tái)可用于廣泛的應(yīng)用,例如故障分析,可靠性測(cè)試,IV / CV測(cè)試,低目前的測(cè)試,微波和射頻表征等等。
隨著半導(dǎo)體變得越來(lái)越小和越來(lái)越復(fù)雜,有必要更密切地監(jiān)控和控制生產(chǎn),特別是在該過(guò)程的更上游。使用MicroXact的半自動(dòng)探針臺(tái)進(jìn)行的晶圓級(jí)可靠性測(cè)試通過(guò)一系列壓力測(cè)試收集數(shù)據(jù),以識(shí)別可能影響器件長(zhǎng)期可靠性的不規(guī)則性。盡管并非總是需要,但在晶片級(jí)可靠性測(cè)試之后可以進(jìn)行進(jìn)一步的和廣泛的故障分析。 系統(tǒng)構(gòu)建在一個(gè)重型,通用的平臺(tái)上,能夠配置為處理各種探測(cè)應(yīng)用。
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